GTEM小室-技術概述：
TEM小室-吉赫茲(zi) 橫電磁波-用於(yu) 電磁輻射敏感度試驗-輻射抗幹擾測試

采用GTEM（吉赫茲(zi) 橫電磁波）進行電磁兼容性測試是近年來電磁兼容領域發展的一項新的測量技術。由於(yu) GTEM的寬頻帶特性（從(cong) 直流到微波），低造價(jia) （隻相當電波暗室造價(jia) 的百分之幾），既可用於(yu) 電磁輻射敏感度試驗（EMS試驗。有時也稱抗擾度試驗），又可用於(yu) 電磁輻射試驗（EMI試驗）而且所用儀(yi) 器（相對在電波暗室中做試驗來說）有配置簡單，成本便宜和可用於(yu) 快速和自動測試的特點，所以越來越受到和國內(nei) 有關(guan) 人士的重視。其中尤以對待小設備的測試，GTEM小室的測量方案是性能價(jia) 格比比較高的測試方案。

TEM小室-圖片: