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雙光衰減器AQ2200-342測量係統

雙光衰減器AQ2200-342測量係統

型號:

產(chan) 品時間:2023-11-09

簡要描述:

雙光衰減器AQ2200-342測量係統 波長範圍:1260~1640nm
快速衰減控製:100ms
內(nei) 置監視功率計
衰減範圍:0~40dB
內(nei) 置光屏蔽:≥70dB

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詳細介紹

 雙光衰減器AQ2200-342測量係統 波長範圍:1260~1640nm
快速衰減控製:100ms
內(nei) 置監視功率計
衰減範圍:0~40dB
內(nei) 置光屏蔽:≥70dB

 

 雙光衰減器AQ2200-342測量係統是單插槽模塊,配有兩(liang) 個(ge) 可變光衰減器,適用於(yu) AQ2200 係列多應用測試係統。

AQ2200-342 模塊帶有兩(liang) 個(ge) 光衰減器,但隻占用測試係統的一個(ge) 插槽。可以同時測試和檢驗多個(ge) 設備或者多端口設備,簡化係統配置並節省空間。

 

 雙光衰減器AQ2200-342測量係統可以滿足生產(chan) 線測量所需功能,但每通道的價(jia) 格近乎 AQ2200-331 的一半。 0.01dB 設置分辨率和 40dB 衰減範圍,適用於(yu) 生產(chan) 測試和檢驗。

可在 0.1 秒內(nei) 實現 20dB 衰減的調節。

  • 節省空間的雙通道模式
  • 性價比高
  • 快速控製

 


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