ZDL6000示波記錄儀(yi) 計量級板卡精度

隻有足夠高的測試精度，才能滿足複雜場景下的測試要求。ZDL6000的示波板卡測量精度最高可達0.03%，非常適用於(yu) SiC、GaN等新材料電力電子器件的準確測量，同時可以作為(wei) 標準實驗室的計量檢測依據。

ZDL6000示波記錄儀(yi) 輸入通道之間全隔離測量

每台示波記錄儀(yi) 標配8個(ge) 板卡卡槽，各輸入通道之間相互絕緣隔離，可確保在強幹擾、多參考電壓等複雜環境下的準確測試。

多種信號自由搭配

示波記錄儀(yi) 可以提供電壓、電流、CAN、溫度…等多種輸入板卡，通道最多可達128CH。用戶可根據具體(ti) 的測試需求自由組合電信號和物理信號，滿足各種場景下的測試需求。

所有通道同步測試

示波記錄儀(yi) 內(nei) 部設有高穩定性溫度補償(chang) 的100MHz同步時鍾，避免了溫度帶來時鍾漂移所引入的測量誤差。同時也保證了每一個(ge) 通道ADC的采樣相位同步，減少了測量時通道間相位角所引入的誤差，誤差在3ns以內(nei) ，保證所有通道信號同步測試。

2Gpts大容量內(nei) 存波形存儲(chu)

在示波模式下，實時波形存儲(chu) 深度高達2Gpts，配合最高可達100MS/s采樣率的板卡，非常適合長時間的波形采集。如果8個(ge) 卡槽全部選配，可輕鬆實現16通道隔離示波器功能。

最高2T固態硬盤存儲(chu)

在記錄模式下，示波記錄儀(yi) 最高可選配2T固態硬盤實時存儲(chu) ，實時記錄采樣率可達1MSa/s，用作測量平台時，耐久性測試的數據記錄時間可長達500天。

雙捕獲模式

長時間的趨勢數據通常采用低采樣率采集趨勢數據，但突發的高度瞬態異常信號需要采用高采樣率捕捉。通過雙捕獲功能，可以同時設置兩(liang) 個(ge) 不同的采樣率來滿足數據捕獲要求。在波形處於(yu) 正常狀態時，保持低采樣率記錄波形變化趨勢，一旦波形滿足觸發條件，示波記錄儀(yi) 將立即切換到最高100MS/s的速度記錄高速瞬態事件。