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2636B源測量單元

2636B源測量單元

型號:2636B

產(chan) 品時間:2023-11-10

簡要描述:

2636B源測量單元是業(ye) 界標準電流-電壓源和測量解決(jue) 方案,適用於(yu) 高度自動化生產(chan) 測試應用。

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詳細介紹

2400型軟件仿真

2600B係列數字源表,與(yu) 為(wei) 吉時利2400 型數字源表源測量單元(SMU)儀(yi) 表開發的測試代碼兼容。這使得基於(yu) 2400型數字源 表的測試係統更容易地升級至2600B係列, 並使測試速度提高高達80%。此外,它還提供了從(cong) SCPI編程轉到吉時利TSP技術的過渡路徑,實施後,可以進一步縮短測試時間。
為(wei) 了全麵支持遺留的測試係統,在這個(ge) 模式下,還*支持2400型源存儲(chu) 清單測試序列。

第三代SMU設計,確保實現更快的測試時間

在早期2600係列儀(yi) 器成熟的架構基礎 上,2600B係列最XIN的源測量單元(SMU) 儀(yi) 表設計從(cong) 幾個(ge) 方麵提高了測試速度。例 如,早期的設計采用的是並聯電流量程調 節結構,而2600 B係列采用了已申請專(zhuan) LI 的串聯量程調節結構,這種結構具有更快 更平滑的量程變換過程和穩定速度更快的 輸出。

SMU-Per-Pin並行測試采用TSP與(yu) TSP-Link技術,提高測試吞吐量,並降低測試成本。

2600B係列數字源表源測量單元 (SMU)儀(yi) 表設計支持對各種負載使用 兩(liang) 種操作模式。在普通模式下,源測 量單元(SMU)儀(yi) 表為(wei) 吞吐量提供 高帶寬性能。在高電容模式下,源測 量單元(SMU)儀(yi) 表使用較慢的帶寬, 為(wei) 較高電容負載提供魯棒的性能。

簡化半導體(ti) 元件測試、驗證與(yu) 分析

可選配的ACS Basic版本軟件實現了客戶效率的化,使客戶可以在開發、質量認證或故障分析中,對封裝器件進行特性分析。主要特性包括:

  • 內容豐富、易於訪問的測試庫
  • 腳本編輯器,實現現有測試的快速定製
  • 數據工具,便於迅速比較測試結果
  • 公式工具,便於分析俘獲的曲線,並提供多種數據函數。

欲了解有關(guan) ACS Basic版本軟件的更多信息,參見ACS Basic版本數據表。

強大的軟件工具

除了基於(yu) Java的嵌入式即插即用軟 件以及可選配的ACS Basic版本軟件,免 費Test Script Builder軟件工具,可以 幫助用戶創建、修改、調試和存儲(chu) TSP測 試腳本。圖1給出2600B係列數字源表軟 件工具的主要特性。

2600B係列產(chan) 品3個(ge) 最XIN型號的雙通道 台式數字源表,提供業(ye) 界最JIA的價(jia) 值 和性能

如果想調試設計問題,首先必須知道存在問題。每個(ge) 設計工程師都要用大量的時間查找電路中的問題,如果沒有合適的調試工具,這項任務耗時長、非常麻煩。

為(wei) 了滿足那些不需要YI流係統級自 動化能力的應用需求,吉時利對2600B係 列數字源表進行了擴展,推出3中最XIN的 高性價(jia) 比台式型號產(chan) 品——2604B、2614B和 2634B。這些型號產(chan) 品性能分別與(yu) 2602B、 2612B和2636B相似,但它們(men) 不包括TSP Link、接觸檢查以及數字I/O能力。

完整的自動化係統解決(jue) 方案

吉時利S500綜合測試係統是基於(yu) 儀(yi) 器的、可高度配置的係統,適合器件、 晶圓或晶圓盒的半導體(ti) 特性分析。S500 綜合測試係統基於(yu) 已被證明的2600係列 係統數字源表源測量單元(SMU),提供 創新的測量特性與(yu) 係統靈活性,可以根據需求進行升級。其*的測量能力, 再加上強大而靈活的自動特性分析套 件(ACS)軟件,為(wei) 客戶提供全麵的應用 範圍和特性,這是市場上競爭(zheng) 產(chan) 品所不具備的。

表1 2600B軟件工具

特征/功能ACS Basic版本基於Java即插即用軟件Test Script Builder (TSB)
說明半導體特性分析軟件, 用於元件測試、驗證 與分析迅速啟動的、基於Java即插即用軟件工具,支持快速和容易的I-V測試,主要用於台式和實驗室用戶為TSP儀器定製的腳本編寫工具
支持的硬件2400係列、2600B係列、4200-SCS2600B係列2600B係列,3700係列
支持的總線GPIB, LAN/LXILAN / LXIGPIB, RS-232,LAN/LXI, USB
功能基於向導的直覺圖形用戶接口(GUI),豐富的測試測試庫和曲線跟蹤能力直線/對數掃描、脈衝、自定義掃描、單點源測量注意:可使用2600B的新API實現準確定時和通道同步總體靈活的自定義腳本,功能齊全的調試器
數據管理公式工具,包括多種數學函數.csv文件導出用戶定義
安裝選購不需要。內嵌在儀表中免費下載或CD提供,安裝在PC上

當您需要對封裝器件數據進行快速采集時,通過 ACS Basic版本軟件基於(yu) 相當的用戶界麵,很容易 發現和運行期望的測試,就像常見的 FET曲線跟 蹤測試一樣。

ACS Basic版本軟件具有靈活的軟件體(ti) 係結構,允許為(wei) 係統配置多種控製器與(yu) 測試夾具,並可以根據應用需要, 配置所需的數字源表數量。

典型應用

各種器件的I-V功能測試和特征分析,包括:

  • 分立和無源元件
    – 兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅動器頭、金屬 氧化物可變電阻(MOV)、二極管、齊納二極 管、電容、熱敏電阻
    – 三抽頭器件——小信號雙極結型晶體管(BJT)場效應晶體管(FET),等等
  • 簡單IC器件——光學器件、驅動器、開關、傳感 器、轉換器、穩壓器
  • 集成器件——小規模集成(SSI)和大規模集成(LSI) – 模擬IC
    – 射頻集成電路(RFIC)
    – 集成電路(ASIC)
    – 片上係統(SOC)器件
  • 光電器件,例如發光二極管(LED)、激光二極管高亮度LED(HBLED)、垂直腔麵發射激光器 (VCSEL)、顯示器
  • 圓片級可靠性
    – NBTI、TDDB、HCI、電遷移
  • 太陽能電池
  • 電池
  • 更多…

2604B/2614B型儀(yi) 表的背板
(單通道2601B, 2611B, 2635B沒有給出)。

2636B源測量單元

在*和第三象限,2600B係列儀(yi) 器用作信號源,向負載提供 bv伟德手机客户端平台。在第二和第四象限,2600B係列儀(yi) 器用作信號宿,內(nei) 部 消耗功率。

2601B、2602B和2604B的I-V測試功能

2611B、2612B和2614B的I-V 測試功能

2636B源測量單元2634B、2635B和2636B的I-V 測試功能

 


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