KeithleyS535參數化測試係統

S535 特點

• 在多站點並行或連續運行中自動執行所有晶片級直流參數測試。觸摸一次探頭測試兩個或四個站點。
• 多達 64 根測試針：並行測試四個站點，每個站點 16 根針；並行測試兩個站點，每個站點 32 根針；連續測試一個站點，64 根針
• 高達 100 W 運行：1 A 時 100 V；100 mA 時 200 V
• 在高速、多針、*自動的測試環境中 1 fA、10 nV 分辨率
• 基於 Linux 的 Keithley 測試環境 (KTE) 係統軟件兼容原有 Keithley 測試係統、支持輕鬆進行測試開發和快速執行。
• Keithley S530 型探頭卡基礎設施也支持原有的 S400 應用KeithleyS535參數化測試係統

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