飛機在強對流天氣飛行時，容易受到雷電的直接附著作用，產(chan) 生高溫、高壓和強電磁力，對飛機造成燃燒、溶蝕、爆炸、結構畸變和強度降低等效應。我司自主研發的雷電直接效應測試係統是一套非常複雜的脈衝(chong) bv伟德手机客户端平台測試係統，主要用於(yu) 係統級雷電直接效應試驗以及對部件材料等進行雷電試驗，*符合GJB1389A，GJB3567等國軍(jun) 標標準，同時也美國軍(jun) 標MIL-STD-464C、航空係統SAE ARP5412、DO160 section23等飛機雷電試驗標準要求。可應用於(yu) 飛機整機、航空航天材料、艦船、DAO彈、軍(jun) 用車輛、雷達等設備設施。
本套雷電直接效應試驗係統包括高電壓附著點分區試驗係統和大電流物理損毀試驗係統。高電壓附著點分區試驗係統可模擬測試飛機等設備在遭受雷擊時，在飛機表麵不同區域可能被雷電襲擊的概率，找到容易被雷電襲擊的附著點。大電流物理損毀試驗係統用來模擬飛機在遭受雷擊時，其附著點遭受大電流時產(chan) 生的高溫、強電動力對飛機結構等部分的破壞效應。

雷電直接效應試驗流程：

本套係統可根據用戶實際測試需求進行按需配置，可提供全套的測試解決(jue) 方案

高電壓附著點分區試驗係統LVG 3000

波形參數的定義(yi) :

根據MIL-STD-464C及SAE ARP5412等標準規定，測試波形主要有A、B、C、D四個(ge) 電壓波形，如下圖所示。

圖 飛機高電壓試驗波形

具體(ti) 要求：

A波形，電壓波形A為(wei) 一個(ge) 上升斜率為(wei) 1000（-0+50%）kV/μs的波形，其幅值的增加直到試驗件擊穿或者閃絡終止，並迅速歸零，如果試驗件沒有閃絡，則波形的跌落沒有規定。

B波形，電壓波形B為(wei) 一個(ge) 上升斜率為(wei) 1.2μs（±20%）、持續時間為(wei) 50μs（±20%）的開路電壓波形。

C波形，電壓波形C為(wei) 在2us處截斷的電壓波形，對於(yu) 上升時間和峰值沒有特殊要求。

高電壓附著點分區試驗係統LVG 3000
D波形，電壓波形D為(wei) 一個(ge) 上升斜率為(wei) 50-250μs、持續時間大於(yu) 2000μs的開路電壓波形。該波形用於(yu) 試驗件的流光特性分析，當使用該波形進行雷擊附著區概率分析時，得出的結論要比實際高（見GJB3567 5.1.1.3）

飛機雷電高壓附著點分區試驗示意圖：