II類全自動衝(chong) 擊電流測試係統LCG 30S屬我司自主發的衝(chong) 擊電流測試發生器，主要用於(yu) MOV、TVS、GDT、SPD等浪湧保護裝置進行模擬雷擊試驗，也可用於(yu) 其它的科學研究，具有係統集成度高、控製智能化，操作簡便等優(you) 點。可通過主回路單元的不同組合，將輸出分為(wei) 多個(ge) 等級，實現拓寬輸出範圍的測試能力。本係列設備采用全自動控製，隻須在參數設置頁麵進行簡單的試驗需求設置，即可一鍵自動運行測試。
II類全自動衝(chong) 擊電流測試係統LCG 30S
優(you) 點：
1.采用開放式結構，簡潔美觀；
2.采用立體(ti) 向心式布局，回路電感量小，放電均勻；
3.設備需安裝在獨立的測試房間，安裝門禁係統，保證用戶的安全；
4.操作方便靈活，可以集成較高的自動化控製，自動循環控製；
5.可搭配crowbar觸發係統進行10/350us波形試驗，最高可輸出100kA；
6.針對不同的測試目的，可配合不同的波形發生網絡，產(chan) 生各種輸出波形；
7.配置MCS2000自動控製係統。

S46T-18 最多為(wei) 32 端接繼電器，包括 18 和 26.5GHz GPIB 全機架，2U

"4200A-SCS-PK1 

高分辨率 IV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率 

對於(yu) 兩(liang) 端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：

4200A-SCS 參數分析儀(yi)

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 8101-PIV 測試夾具與(yu) 采樣設備"

"4200A-SCS-PK2 

高分辨率 IV 和 CV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 

對於(yu) 高 K 電解質，深亞(ya) 微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

4200A-SCS 參數分析儀(yi)

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與(yu) 采樣設備"

"4200A-SCS-PK3 

高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件" "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 

對於(yu) 功率設備、高 K 電解質，深亞(ya) 微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

4200A-SCS 參數分析儀(yi)

(2) 4200-SMU 模塊

(2) 4210-SMU

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與(yu) 采樣設備"

"4200-BTI-A 

超快 NBTI/PBTI 套件" "用於(yu) 使用* CMOS 技術套件進行複雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括：

(1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊

(2) 4225-RPM 遠程前置放大器/開關(guan) 模塊

自動化檢定套件 (ACS) 軟件

超快 BTI 測試項目模塊

電纜"

2600-PCT-1B 低功率 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A - US $26,600

2600-PCT-2B 高電流 200 V/10 A 200 V/10 A 40 V/50 A 40 V/50 A - US $45,300

2600-PCT-3B 高壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 200 V/10 A 200 V/10 A - US $52,600

2600-PCT-4B 高電流和高電壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 40 V/50 A 40 V/50 A - US $71,400

S500 - 配置與(yu) 報價(jia)

S530. - 配置與(yu) 報價(jia)

S535 - 配置與(yu) 報價(jia)

S540 - 配置與(yu) 報價(jia)

708B 單槽半導體(ti) 開關(guan) 矩陣，具有高達 96 個(ge) 相交點

707B 六槽半導體(ti) 開關(guan) 矩陣，具有高達 576 個(ge) 相交點

ACS-BASIC ACS 基礎版主要適合通過手動探頭測試台和測試夾具進行半導體(ti) 元器件測試。通過“譜線模式”快速地以交互方式執行初始器件檢定。或者，使用基於(yu) GUI 的設置屏幕和廣泛的測量庫創建詳細的參數提取測試。

ACS. ACS 支持各種半自動和全自動探頭在整個(ge) 晶片上對半導體(ti) 器件進行測量。 或者，以交互方式控製探頭測試每個(ge) 器件。 在運行時期間，通過單器件結果和多器件統計監視測試進度。

PSPL5865 12.5 Gb/s 26 dB 7.5 Vp-p 非逆 2.3 W - US $2,570