Santec的PEM-330偏振消光比測試儀采用專LI技術製造，可實現1260～1630nm全波段測量。隻需更換測試光源，無需購買多台消光比測試儀，即可實現不同波段器件的準確測量，一機多用大大降低了儀器購置成本。該消光比測試儀具有*的消光比測試精度、偏振角測試精度，能夠測量高達50dB的消光比。並且配備了GPIB及RS-232C接口，適用於偏振光軸調整的光學元器件裝配及保偏光纖熔接的質量控製及檢測等領域。

偏振消光比、光功率及偏振角度是製作偏振產品是比較關心的三個指標，此款產品經過客戶驗證具有較高的穩定性及準確認；同時也提供通信接口支持測試自動化。
PEM-330提供GPIB、RS-232C通信接口，同時提供模擬功率監控輸出。

• 全波段 1260-1630nm
• 同步顯示消光比、光功率和偏振角度
• 實時測量50dB動態範圍的偏振消光比
• /-40 ~+10dBm動態範圍的輸入光功率
        可應對高輸入功率(-25 ～ +20dBm)/
• 光電檢測的模擬輸出
• 實時測量（10Hz）
• 可選實用軟件（用於控製裝置和存儲數據）
• 光學儀器偏振軸校直
• 保偏光纖合格測試
• 保偏輸出光源性能測試
• 保偏光纖融接結果測試PEM-330偏振消光比測試儀