BERTScope BSX 係列誤碼率測試儀(yi) 引入了能夠支持第四代及以上新興(xing) 標準的接收機測試平台。通過增加強大的數據處理和內(nei) 置發射機均衡技術，BERTScope 支持基於(yu) 協議的握手功能，並與(yu) 被測器件 (DUT) 同步，包括交互式鏈路訓練，支持最高 32 Gb/s 的數據速率。BSX 係列縮短了調試物理層和鏈路訓練問題所需的時間，為(wei) 滿足各種標準提供了較快速的途徑。

歐盟客戶通知

本產(chan) 品尚未更新以符合 RoHS 2 指令 2011/65 / EU 要求，且將不會(hui) 發貨至歐盟。在 2017 年 7 月 22  日前，客戶可以通過歐盟市場的庫存購買(mai) 產(chan) 品直至庫存SHOU罄。泰克致力於(yu) 為(wei) 您提供所需的解決(jue) 方案。請聯係您的當地銷售代表以獲取進一步幫助，或確定是否有可用的替代產(chan) 品。泰克將繼續為(wei) 全球範圍內(nei) 仍享受質保支持的產(chan) 品提供服務。

主要性能指標

• 高達 32 Gb/s 的碼型發生和誤碼分析功能
• 選配內置 4 階發射機均衡功能，支持交互式鏈路訓練
• 麵向協議和麵向位的多鏈碼型定序技術，增強型碼型/序列編輯器
• 激勵響應反饋，用戶自定義檢測器碼型匹配
• 已獲專LI的誤碼定位分析技術（Error Location Analysis™ ），超越BER測量，分析關聯度和確定性錯誤碼型，深入了解誤碼根源
• 選配前向糾錯分析技術，根據測得誤碼位置碼型仿真FEC後誤碼率
• 集成眼圖和 BER 關聯功能，包括模板測試、抖動峰值、BER輪廓
• 選配抖動分離及定位 (Jitter Map) 係統，提供豐富的抖動解析 – 支持長碼型（如 PRBS-31）

主要特點

• 為接收機壓力測試、調試和*性測試提供單一解決方案
• 測試第三代和第四代標準，包括 PCIe、SAS 和 USB3.1 及各種自主開發的標準
• 超過 16 Gb/s 的 DUT 握手功能，滿足環回發起和自適應鏈路訓練的接收機測試要求，支持 PCIe 等主要標準
• 協議識別碼型發生和誤碼檢測，支持靈活的激勵響應編程能力，調試握手問題。
• 前向糾錯(FEC)仿真選項，可以測量糾錯前和糾錯後BER，支持常用的Reed-Solomon FEC代碼。
• 為各種主要標準提供了校準和測試自動化軟件

應用

• 設計驗證，包括信號完整性、抖動和時序分析
• 測試高速串行係統、複雜設計的性能
• 設計/驗證高速 I/O 組件和係統，包括 DUT 握手
• 信號完整性分析 – 模板測試、峰值抖動、BER輪廓、抖動分離及定位（Jitter Map)和前向糾錯仿真

智能內(nei) 存排序

由於(yu) 麵向位的內(nei) 存排序模式和協議識別內(nei) 存排序模式，另外由於(yu) 能夠根據用戶自定義(yi) 檢測器碼型匹配情況推進排序器，BSX 係列允許用戶創建自己的基於(yu) 協議的碼型和握手序列。

碼型內(nei) 存排序器

BSX係列內(nei) 存排序器可以靈活地間接接入碼型內(nei) 存。碼型內(nei) 存可以支持兩(liang) 級循環嵌套，每個(ge) 循環高達100萬(wan) 次迭代。用戶可以通過多種手段控製與(yu) 測試設備的握手。為(wei) 進一步簡化編程，提高內(nei) 存效率，各個(ge) 碼型段可以是大於(yu) 128位的任意尺寸。內(nei) 存序列推進可以由軟件控製、外部信號或檢測器碼型匹配來控製、外部信號或檢測器碼型匹配來控製，用戶可以通過多種手段控製與(yu) 測試設備的握手。

內(nei) 存排序器模式

為(wei) 了能讓用戶更靈活、更簡便地創建和檢測碼型和序列，我們(men) 提供了兩(liang) 種不同的排序器模式，兩(liang) 種模式都支持上麵介紹的環路和序列推進功能：

• 麵向位的排序器模式。在麵向位的模式下，從碼型內存中把沒有刪減的位發送到發生器輸出，不使用協議處理。這相當於傳統 BERT 內存碼型操作。
• 協議識別排序器模式。在協議識別模式下，碼型內存字作為協議塊或符號組處理，而不是作為位處理。這些字從內存中獲取，根據選擇的協議或編碼處理。視具體協議要求，麵向協議的模式處理可以包括：
  • 把符號封裝到協議塊中
  • 符號編碼
  • 數據加擾
  • DC 均衡

  用戶可以以“自然”格式輸入內(nei) 存數據。注意，可以實現排序器狀態之間的跳轉，而不會(hui) 出現數據“縫補”問題，因為(wei) 排序器會(hui) 保持加擾 /DC 均衡狀態。

檢測器碼型匹配

BSX 係列支持選配的用戶自定義(yi) 檢測器碼型匹配功能，可以用來推進發生器排序器狀態。這種功能實現了靈活的激勵/響應編程能力，支持調試協議和專(zhuan) 有協議。與(yu) 內(nei) 存排序器一樣，碼型匹配支持兩(liang) 種模式：

• 麵向位的匹配模式。麵向位的模式包括 4 個通用檢測器碼型匹配裝置，能夠發現輸入的數據流中長度達 128 位的任意碼型，並提供位掩碼。如果匹配，排序器會進入下一種狀態。
• 協議識別匹配模式。協議識別模式包括 16 個檢測器碼型匹配要素，用於基於協議的碼型匹配。對於 PCIe Gen3/4 和 USB 3.1 Gen2，檢測器可以匹配整個解碼的碼組淨荷，並支持位/比特掩碼。對於 8b/10b 編碼，檢測器可以在碼組/符號解碼及掩碼後匹配最多16 個 8 位符號。

協議塊/符號過濾

支持的協議植入了時鍾補償(chang) (跳躍)和碼組/符號過濾功能，獨立時鍾操作通常要求這些功能。檢測器中的協議過濾撥碼會(hui) 在原始碼流與(yu) BER測量過濾後的碼流之間切換。

碼型排序器編輯器

BSX 係列引入了一種新的碼型編輯器，這種碼型編輯器能夠支持麵向位的碼型和協議識別碼型，並支持碼型序列創建功能。

序列編輯器

在協議識別排序器模式中，編輯器將發生器碼型內(nei) 存中的符號協議消息轉換成協議特定數據塊（沒有任何變換）。隨後由協議特定內(nei) 存排序器處理這些數據塊。這簡化了複雜協議數據流的生成過程。

排序器

多域觀測

眼圖一直作為(wei) 係統性能簡單、直觀的表現，但是很難和BER性能聯係起來，因為(wei) 測試儀(yi) 器從(cong) 根本上有很大的差別。示波器測量的眼圖是由較少的測試樣本組成，不容易發現一些罕見偶發的事件。誤碼儀(yi) (BERT) 能夠對每一個(ge) 比特計數，因此能夠提供基於(yu) 很大量數據集樣本的測試，但是測試結果缺乏對信息的直觀的表征和故障排查。

BERTScope 結合兩(liang) 者的優(you) 勢，允許快速、簡單的觀測眼圖，並比傳(chuan) 統的眼圖測試樣本多至少多兩(liang) 個(ge) 數量級。可以按照上圖的例子中所示的那樣，通過簡單的移動 BERT 的采樣點，將光標放在感興(xing) 趣的地方，使用強大的誤碼分析能力，獲得更多更深入的信息。例如，檢查碼型對當前上升沿影響的敏感程度。或者，使用一鍵式 BER Contour 測量，檢驗是否性能問題是有界的，或者可能會(hui) 導致哪些故障。在每一個(ge) 例子裏，測試樣本碼型可以是 231-1 的偽(wei) 隨機碼，可以幫助建立模型或者故障定位。

數據豐(feng) 富的眼圖

正如前麵所示，BERTScope在測量數據樣本深度方麵與(yu) 傳(chuan) 統的眼圖測試有著巨大的差異。這個(ge) 差異意味著你能看到更加真實的情況，無論是什麽(me) 樣的係統，更多低概率事件將會(hui) 隨著每次長數據碼型運行而出現，不管是有隨機噪聲，還是從(cong) VCO引起的隨機抖動。通過一鍵式的BER輪廓、抖動峰值和Q-因子測試，能夠增加對係統更深層次的認識，增加對設計的信心。

深度模板測試

由於(yu) 能夠改變采樣深度，可以非常方便地在深測量與(yu) 淺測量之間移動，前者可以更準確地查看實際係統性能，後者則與(yu) 采樣示波器配套使用。下麵所示的測量來自光接收機的眼圖。通過把 BERTScope采樣深度設置成僅(jin) 3000個(ge) 波形，BERTScope在短短1秒鍾內(nei) 生成中間所示的圖形。測得的20%的模板餘(yu) 量與(yu) 采樣示波器上進行的同一測量準確相關(guan) 。下方圖形顯示了同一設備生成的眼圖，其使用*性廓線在1 x 10-6的BER下測得。這裏的模板餘(yu) 量下降到17%。

眼圖測試樣本深度優(you) 勢至少是模板測試的10倍。不像其他誤碼儀(yi) 提供的“偽(wei) ”模板測試那樣，BERTScope能對模板邊沿的每一個(ge) 樣點進行采樣，包括在眼圖之上和之下的區域。不僅(jin) 如此，每一個(ge) 點都能看到之前從(cong) 未看到過的深度。這意味著既是使用工業(ye) 標準化模板或自定義(yi) 模板持續測試幾秒，也能確保被測設備沒有隱藏的問題。

為(wei) 行業(ye) 標準提供高精度的抖動測試

無論測試碼型的長短，靠推算得到抖動結果得方法是不能達到最高抖動測量精度的。BERTScope 能快速測量誤碼率水平為(wei) 1x10-9（高速信號可達 1x10-10），或者等待儀(yi) 器直接測量到 1x10-12水平。對於(yu) 這兩(liang) 種測試方法，BERTScope 的一鍵式測量都嚴(yan) 格符合 MJSQ 定義(yi) 的抖動測試方法，並且 BERTScope 中內(nei) 部的 delay 控製是誤碼儀(yi) 中最HAO的，可以確保抖動測試的精度。可使用內(nei) 置的抖動計算模型，包括 TJ（總抖動）、RJ（隨機抖動）、DJ（確定性 抖動），或者將測試數據輸出，進行自定義(yi) 的抖動建模分析。

BSX 係列的低固有 RJ 可以同時滿足 802.3ba 的 VECP (垂直眼圖閉合代價(jia) )和 J2/J9 校準，並提供所需的重要餘(yu) 量，全麵檢定100G 以太網芯片。

靈活的時鍾模式

BERTScope非常有特色的時鍾產(chan) 生路徑為(wei) 現實世界中不斷湧現出的設備提供了靈活的測試方案。無論是電腦插卡還是硬盤，通常都需要提供子速率（sub-rate）係統時鍾，例如PCI Express中100MHz的時鍾。為(wei) 了能使被測係統正常工作，需要提供差分的係統時鍾，而且時鍾的幅度、偏置各有不同；BERTScope內(nei) 部提供靈活的分頻係數，其靈活構架可以完成各種時鍾的生成。

擴頻時鍾（SSC）通常用於(yu) 串行係統中，以減小EMI的幹擾。BERTScope可以調節的SSC的調製幅度、頻率和調製的輪廓，如三角波、正弦波等，因此允許測試任何一種使用SSC技術的*性標準。還可使用額外的調製器和信號源，在高達4 MHz的頻率上生成高幅度、低頻率的正弦抖動（SJ）的時鍾。

可編程的基準時鍾倍頻器

為(wei) 進一步增加時鍾輸入的靈活性，BSX 係列提供了一個(ge) 通用基準時鍾倍頻器，用戶可以為(wei) 10 MHz ~ 200 MHz 的輸入基準時鍾頻率範圍一個(ge) 整數時鍾倍率。時鍾輸出頻率以 時鍾合成器的頻率範圍為(wei) 界，在 BSX 係列中是 1 GHz ~ 16 GHz。其為(wei) 許多常用標準提供了預先定義(yi) 的倍率。其為(wei) 許多常用標準提供了預先定義(yi) 的倍率。

處理閉合的眼圖

隨著通道中電信號的數據率越來越快，通道的損耗經常導致信號在Rx端的眼圖閉合。在實際的係統中，常使用 Equalization（均衡）補償(chang) 通道的損傷(shang) ，以得到“張開的眼圖”。泰克提供了強大的工具來幫助設計者檢定和測試這些係統中使用的接收機和發射機組件是否滿足標準。

圖形用戶界麵以合理的容易跟蹤的方式表示控製功能，保持了BERTScope的一貫風格。響應的時域表示顯示了階權重設置的影響。頻域 Bode 圖顯示了濾波器怎樣補償(chang) 通道損耗。

對於(yu) 接收機測試，BSX 係列內(nei) 置 4 階預加重/去加重功能，能夠在儀(yi) 器數據速率下運行，在 BSX320 型號中達到 32 Gb/s。此外，快速控製輸出均衡功能可以滿足最嚴(yan) 格標準的鏈路訓練響應時間要求。

PatternVu

PatternVu選件是一套軟件實現的FIR濾波器，能夠在眼圖顯示之前使用。在使用均衡的Rx係統中，PatternVu能夠觀測、測量在Rx端均衡之後、判定之前信號的眼圖，即能將均衡的影響包含在測試結果中。均衡器最多允許有32階(tap)，並且可以選擇每個(ge) UI的階(tap)分辨率。

PatternVu

PatternVu還包括CleanEye功能，即碼型固定的、經過平均處理後的眼圖，可以去除眼圖的非確定性抖動分量。CleanEye能夠在存在大量隨機抖動的情況下，清晰地看到ISI對係統的影響。

單次波形數據值輸出是PatternVu的一個(ge) 部分，能夠顯示所捕獲的固定碼型中的任意一個(ge) 比特，非常類似實時示波器中的單次捕獲功能。一旦被捕獲，波形數據能夠以多種格式輸出，以便使用其他工具進行分析。

增加時鍾恢複

泰克CR125A、CR175A和CR286A產(chan) 品提供了靈活的*性時鍾恢複方案。許多標準的抖動測試要求使用環路帶寬的時鍾恢複。使用不確定或未知的環路帶寬將帶來錯誤的抖動測量。泰克最XIN的時鍾恢複儀(yi) 器能夠為(wei) 各種標準測試提供簡單、準確的測量。

直觀用戶界麵提供了對所有操作參數的簡單控製。*的環路回饋視圖描繪了環路帶寬的特性—該圖是真實測量的結果，而不是數據設置過程。

BERTScope CR的使用不受BERTScope測量的限製。既可以配合其他儀(yi) 器使用，如采樣示波器或誤碼儀(yi) 等，也可以和其他已有的儀(yi) 器一起使用。通過把這些多功能儀(yi) 器與(yu) 現有的儀(yi) 器結合起來，您可以實現標準測量。

此外，本地內(nei) 置顯示器和BERTScope用戶界麵中均提供了鎖定狀態和測得參數，如碼型邊沿密度和相位誤碼，可以實時查看輸入信號特點和CR性能。

顯示和測量 SSC 調製

擴頻時鍾（SSC）在最XIN的串行標準中經常使用到，以減小 EMI 幹擾，例如：SATA，PCI Express 和下一代 SAS。泰克 CR 家族支持擴頻時鍾的恢複，能夠顯示和測量 SSC 調製波形。包括了、最小頻率偏差（ppm 或 ps 為(wei) 單位）、調製變化率（dF/dT）和調製頻率等自動化測量項目。也包括了數據速率的顯示以及簡單易用的垂直、水平光標。

SSC 波形測量

增加抖動分析

泰克CR125A、CR175A或CR286A分別與(yu) 選項12GJ、17GJ和28GJ及采樣示波器或BERTScope相結合，實現了1.2 – 11.2 Gb/s可變時鍾恢複、占空比失真(DCD)測量和實時抖動頻譜分析。抖動頻譜顯示頻率範圍從(cong) 200Hz到90MHz，可以使用光標進行測量。可以使用用戶可設置的頻率限定進行抖動的帶限測量（上圖例子中是PCI Express 2.0預設的帶寬限製和抖動測量）。

抖動頻譜測量。

消除接收機測試中的壓力

隨著網絡變化，接收機測試挑戰也在變化。雖然誤碼測試和接收機靈敏度之類的測試非常重要，但在現實世界中，必須考慮10Gb/s之類的背板係統和其他高速總線的接收機抖動容限性能。壓力眼圖測試（Stressed Eye Testing）現在在許多的行業(ye) 規範中變得越來越常見。另外，工程師可以利用壓力眼圖測試來發現接收機性能極限，用以檢查係統在設計和生產(chan) 過程中的餘(yu) 量。

像進行PCI Express 2.0這類的串行總線*性接收機壓力測試，通常需要用到多台DU立的儀(yi) 器和設備，不得不花幾個(ge) 小時去設置儀(yi) 器、連接被測設備。通過BERTScope一台儀(yi) 器，以及測試向導來控製所有的經校準的壓力源，非常方便地進行接收機壓力測試 - 這些都是在一台儀(yi) 器中完成的。該方案不需要外部電纜、混頻器、耦合器、調製器，減少了校準過程，大大簡化了壓力測試的校準和測試。

壓力眼圖視圖

靈活產(chan) 生信號損傷(shang)

BERTScope內(nei) 置高質量、經校準的各種信號損傷(shang) 源，包括RJ、SJ、BUJ和SI。

ISI是許多標準中常見的信號損傷(shang) 類型。BSA12500ISI差分ISI板提供了可變的鏈路長度，而不受開關(guan) 頻帶空段和異常事件的影響。

靈活產(chan) 生壓力損傷(shang)

許多標準要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調製的SJ對Rx的影響。BERTScope內(nei) 置的抖動容限功能通過用戶自定義(yi) 的容限模板，自動完成這項測試。同時，BERTScope還提供了許多標準的測試庫供用戶使用。

內(nei) 置抖動容限功能

BERTScope 碼型發生器產(chan) 品

BERTScope碼型發生器提供了完整的PRBS碼型發生功能，支持標準和自定義(yi) 碼型。

STR選項可以產(chan) 生集成的、經校準的壓力信號，可以替代傳(chuan) 統多儀(yi) 器、手動校準的方案。該係列產(chan) 品可以用於(yu) 係統自帶BER測量的案例，如DisplayPort；或配合傳(chuan) 統誤碼儀(yi) 以增加產(chan) 生帶壓力碼型的能力。

壓力眼圖測試選項

碼型捕獲

對未知的輸入數據有幾種處理方法。除了上麵所討論的實時數據分析之外，所有 BERTScope 分析儀(yi) 都有一個(ge) 非常有用的標配功能 - 碼型捕獲。該功能允許用戶重複碼型的長度，然後允許分析儀(yi) 使用檢波器的 512 Mb RAM 內(nei) 存抓取傳(chuan) 入數據。這些數據可以用作新的檢波器參考碼型，可以進行編輯和保存以便未來使用。

碼型捕獲

帶壓力眼圖的碼型發生器

碼型發生器帶壓力眼圖功能提供了下述特性：

• 對內部或外部時鍾，靈活、集成地施加眼圖損傷
• 隱藏了測試的複雜性，但又不失靈活簡單的特性
• 使用BERTScope和外部ISI濾波器進行多種標準*性測試，包括
  • OIF CEI
  • 6Gb SATA
  • PCI Express®
  • XFI
  • USB 3.1 
  • SONET
  • SAS
  • XAUI
  • 10 和 100Gb 以太網
  • DisplayPort
• BSX係列BERTScope內置兩種正弦曲線幹擾源。這些幹擾源在內部相加，在前麵板上作為單個差分輸出。在與選配的外部BSXCOMB套件結合使用時，其支持各種正弦曲線幹擾測試配置，包括PCIe Gen3和Gen4的CM和DM幹擾要求。

幅度和 ISI 損傷(shang)

對 ISI，外部增加 ISI：例如，長的同軸電纜，或者 4 階 Bessel-Thompson濾波器，-3dB 點等於(yu) 0.75 數據率

對需要模擬電路板耗散的應用，BSA12500ISI 差分 ISI 生成板提供模擬電路板走線損耗

抖動測量

數據速率在 Gb/s 的信號其眼寬就幾百個(ge) 皮秒，甚至更少。因此準確的抖動測量是控製抖動預算的重要部分。BERTScope 提供兩(liang) 套工具來完成這些重要抖動測試。

物理層測試套件使用廣泛認可的 Dual Dirac 方法測試總體(ti) 抖動 (Total Jitter) 和對總體(ti) 抖動的分離，隨機抖動 (RJ)、確定性抖動 (DJ)。BERTScope 采用的是誤碼儀(yi) 的方法采集數據，樣本深度遠大於(yu) 示波器測試抖動時所采集的樣本深度，並很少采用推算的方法測量抖動。從(cong) 根本上講，這種方法的測試精度比高度依靠推算的方法的精度要高很多。

MJSQ 標準 Dual Dirac 抖動測量。

選配的抖動分離及定位 (Jitter Map) 是 BERTScope 上最XIN的抖動測量套件。該套件提供了複雜的分析子集，除了 RJ 和 DJ 之外，還包括了許多更高速的標準*性測試中定義(yi) 的抖動測量。抖動分離及定位 (Jitter Map) 能在長碼型上（例如 PRBS31）進行抖動測量和分離，也支持實時在線數據抖動分析，*次能夠在較短的同步數據碼型上運行（需要實時數據分析選件）。

圖：抖動分離及定位。

主要特性包括：

• DJ分解為有界不相關抖動（BUJ），數據相關抖動（DDJ），碼間幹擾抖動（ISI），占空比失真抖動（DCD），包含F/2抖動在內的子速率抖動（SRJ）
• 基於誤碼測試（非推算）的TJ測量，誤碼率水平可以到10–12 甚至更小
• 區分相關和非相關性抖動分量，減小對長碼型的DDJ和RJ測試的混淆
• 可以測量最小眼張開度的抖動
• 增加了其他儀器所沒有的抖動測試項目：加重抖動（Emphasis Jitter），非相關抖動（Uncorrelated Jitter），數據相關性脈寬損耗（DDPWS）和非ISI抖動
• 直觀的抖動分離樹顯示

抖動峰值和BER輪廓測量的實時數據

靈活的外部抖動接口

靈活的外部抖動接口包括下述特性：

• 前麵板外部高頻抖動輸入連接器 - 可以添加從 DC 到 1.0 GHz 高達 0.5 UI（值）的抖動，可以是落在幅度和頻率邊界內的任何類型的抖動
• 後麵板外部 SJ 低頻抖動輸入連接器 - 可以添加從 DC 到 100 MHz 高達 1.1 ns（值）的抖動
• 後麵板 SJ 輸出
• 前麵板正弦幹擾輸出連接器

內(nei) 部的 RJ、BUJ 和外部高頻抖動輸入合成幅度 0.5UI，合成抖動中的每一項幅度 0.25UI。可以使用後麵板低頻抖動輸入增加額外的抖動；外部低頻抖動、10 MHz 以下的內(nei) 部低頻 SJ、PCIe LFRJ 和 PCIe rSSC（使用選項 PCISTR）之和限於(yu) 1.1 ns。這些限製對 XSSC 選項的相位調製 (PM) 無效。

抖動損傷(shang)

有界非相關(guan) 性抖動（BUJ）：

• 支持數據速率範圍：1.5 - 12.5 Gb/s (BSX125), 24 Gb/s (BSX240), 32 Gb/s (BSX320)
• 內部PRBS發生器
• 可調幅度最高0.5UI
• 100Mb/s到2Gb/s
• 可供選擇的帶限濾波器如下表

隨機抖動

• 支持數據速率範圍：1.5 - 12.5 Gb/s (BSX125), 24 Gb/s (BSX240), 32 Gb/s (BSX320)
• 可調幅度最高0.5UI
• 帶寬限製10MHz~1GHz：在PCIe2模式下1.5 MHz – 100 MHz
• 波型因數(Crest factor)為16（其高斯分布至少到8倍標準偏差範圍，或誤碼率水平達到10–16）

正弦曲線抖動

SJ 可以從(cong) 0 調節到大於(yu) 等於(yu) 表中範圍的水平。範圍在高調製速率和/或位速率下會(hui) 減小。請參閱擴頻時鍾和相位調製以了解更多 PM 功能詳細信息，以及正弦曲線抖動 (SJ)以了解更多 SJ 功能詳細信息。

1範圍可以在 1100 ps、270 ps 和 130 ps 之間選擇；範圍越低，本底抖動越低。

2完整的 SJ 範圍為(wei) 270 ps，有 RJ 或 BUJ 時，範圍下降到 220 ps。

3HFSJ、BUJ、EXT、HF 抖動與(yu) RJ 總和 ≤ 0.5 UI

測試接口卡

最後，我們(men) 提供了一個(ge) 解決(jue) 方案，來解決(jue) 在高速線路卡、主板和實時業(ye) 務上進行物理層測量的問題，那就是 BERTScope 在線數據分析選項。通過以全新方式使用雙判定點結構，該儀(yi) 器能夠進行參數測量，如抖動、BER 輪廓和 Q 因子，以及標準中要求時鍾信號的眼圖和模板測量。可以增加抖動定位及分離選項，在在線數據上查看更多層抖動分解。您不會(hui) 再因為(wei) 碼型未知、不可預測或涉及速率匹配字插入而感到無所適從(cong) 。現在調試變得異常簡便，隻需一鍵操作就能進行物理層測試，為(wei) 您提供*的視角。

用戶軟件界麵

用戶界麵把可用性提升到全新高度：

• 簡單向導
• 符合使用邏輯的布局和操作
• 界麵之間切換方麵靈活
• 豐富的測試相關信息
• 用戶輸入敏感，用顏色提醒用戶輸入數據的有效性

UI設置界麵

獨立視圖中含有碼型編輯器、碼型段編輯器和碼型排序器，要求用戶提供分辨率最低為(wei) 1280 x 1024的VGA兼容監視器。

碼型和序列編輯器

物理層測試選項

提供了下述物理層測試選項：

• BER 輪廓測試
  • 為了相關性，執行和眼圖測量一樣的采集
  • 為了準確的樣點提供延時校準
  • 自動比例調整，一鍵式測量
  • 從測量的數據中推算輪廓，增加實際數據的測試深度，重複更新輪廓曲線
  • 輸出 CSV 格式數據
  • 從 10–6 到 10–16 誤碼率水平範圍內進行輪廓測試

• 基本抖動測量
  • 按照 T11.2 MJSQ BERTScan（也稱為“浴缸抖動”）方法進行測試和測量
  • 快速準確的完成用戶可誤碼率水平的總抖動推算，或直接測量
  • 按照 MJSQ定義的方法分離確定性抖動和隨機抖動
  • 為了準確的樣點提供延時校準
  • 輸出 CSV 格式數據
  • 一鍵式測量
  • 用戶的幅度的門限或自動選擇門限電平
  • 根據 MJSQ 定義，當使用長碼型可選擇開始BER以提高精度

• Q 因子測量
  • 一鍵測量經過眼圖中心的垂直橫截麵
  • 簡便觀察係統噪聲影響
  • 輸出 CSV 格式數據
• *性輪廓測試
  • 驗評滿足標準情況，例如 XFP/XFI 和 OIF CEI，驗證 Tx 端性能
  • 將模板和 BER 輪廓測量結果比較，快速簡單確定被測設備是否通過 BER 特性要求

實時數據分析選項

實時數據選項主要用於(yu) 測試係統在線時數據傳(chuan) 輸性能。該選項可用於(yu) 測試係統傳(chuan) 輸的碼型未知或非重複的情況，還包括為(wei) 匹配時鍾速率而在數據流中插入空閑位的情況。也可適用於(yu) 探測線卡信號等等。

這個(ge) 選項使用兩(liang) 個(ge) 前端判決(jue) 電路中的一個(ge) ，通過放置在眼圖中心，判斷數據是 0 還是 1。另外一個(ge) 用於(yu) 探測眼圖外部以決(jue) 定參數性能。這種方法對物理層問題十分有效，但並不能識別由於(yu) 協議引起的邏輯層問題，也就是預計是1、發送的卻是0的情況。

實時數據選項可以能夠使得在線數據進行 BER 輪廓、抖動峰值和抖動分離及定位和 Q 因子的測試。眼圖測試可以不需要該選項，隻需要提供外部的時鍾即可。

實時數據分析選項需要物理層測試選項，必須使用全速率時鍾。

PatternVu 均衡處理選項

PatternVu1為(wei) BERTScope 增加了幾個(ge) 強大的處理功能：

• CleanEye 是一種眼圖顯示模式，將平均處理後的數據進行眼圖分析，可消除非數據相關性抖動分量。用戶可以使用 CleanEye 測量數據相關性抖動，如 ISI 等，提供對複雜抖動的直觀的表現形式。該選項在任何重複碼型下有效，碼型長度上限 32,768 位。
• 單次波形數據輸出將 CleanEye 輸出以 CSV 格式輸出。該輸出文件最多包含 105 比特位，可以通過 Microsoft Excel® 或其他仿真軟件處理，如 Stateye 或 MATLAB®。該功能允許對實時數據的離線分析，以實現最XIN在 802.3aq 和 LRM 10G 以太網標準要求的 TWDP 的測試。
• FIR 濾波均衡處理器可以模擬通信鏈路，在數據顯示之前應用一個軟件線性濾波器，以觀測和測量在 Rx 端判決電路前的眼圖性能。例如，FIR 濾波可以模擬背板係統的信號損耗，或者模擬 Rx 端的均衡器，簡化 Rx 側的均衡器設計和測試。

  濾波器的參數可用通過對 FIR 濾波器中一係列階的權重調節而改變。至多 32 個(ge) 階，間隔從(cong) 0.1 UI 到 1 UI，可準確調整濾波器的形狀。FIR 濾波在任何重複碼型下有效，碼型長度上限32,768位。

• 單沿抖動測量能夠對速率大於 3Gb/s 的單個邊沿進行深誤碼率抖動測量。單沿抖動峰值測量功能可以計算碼型的單獨邊沿的抖動，要求重發碼型，長度不超過 32,768。測量得到的抖動結果中，不包含數據相關性抖動，僅顯示出非相關性抖動分量，如隨機抖動（RJ），有界不相關抖動（BUJ）和正弦抖動（PJ）。
• 靈活的測量可以讓用戶 CleanEye 波形中確切的位置進行高精度的幅度、上升時間、下降時間和加重比例的測試。可重新定義標準（PCI Express 和 USB 3.1）的測量的算法。

1PatternVu 以900 Mb / s 或更高的數據速率運行。

誤碼分析

誤碼分析是一些列和誤碼發生情況緊密聯係在一起的的視圖，能夠簡單、快速的發現潛在的問題。可以非常方便的在眼圖的某個(ge) 區域內(nei) 放置 BERTScope 采樣點，探測在位置上的碼型靈敏度。例如，直接觀測碼型是否會(hui) 導致信號邊沿時刻的提前或滯後。

BERTScope 係列產(chan) 品標配了許多視圖：

• 誤碼統計視圖以比特位和突發的統計來分析鏈路性能。

條狀圖：比特位和突發誤碼率的條狀圖。

• 條狀圖：比特位和突發誤碼率的條狀圖。

條狀圖顯示了誤碼和誤包隨時間的變化。例如在做溫度循環實驗時，可以發現係統故障出現的規律。

• 突發長度：以直方圖的形式顯示不同碼長的誤碼發生次數
• 無誤碼間隔：以直方圖的形式顯示誤碼發生之間的時間間隔
• 相關性：以直方圖形式顯示誤碼和用戶自定義塊大小，或外部標記信號之間的位置關係
• 碼型靈敏度：以直方圖的形式顯示不同碼型位置上出現錯誤的測試
• 碼組錯誤：以直方圖顯示數據間隔的次數（或用戶碼組大小）和在碼組中出現誤碼次數的關係

碼型靈敏度視圖時一個(ge) 強大的工具，用以檢查錯誤事件和碼型之間的關(guan) 係。能夠顯示出哪種碼型序列有最多的問題，支持 PRBS 和用戶自定義(yi) 碼型。

前向誤碼糾錯仿真選項

BERTScope因為(wei) 采用了專(zhuan) LI的誤碼定位技術，在測試中可以確定每一個(ge) 誤碼發生的位置。通過用假設誤碼糾錯器，仿真內(nei) 存塊典型的糾錯碼，例如Reed-Solomon結構，以通過非相關(guan) 數據通道的誤碼率測試，確定找到合適的FEC方法。用戶可以設置誤碼糾錯的力度，交織的深度以及確保符合流行的糾錯硬件結構。

二維誤碼映射

通過發現到的誤碼，分析繪製出二維誤碼分布圖。誤碼分布基於(yu) 幀的大小或者複用器的寬度，分析出誤碼是否容易在幀的某個(ge) 位置上，或者連接到複用器的並行總線中的某一個(ge) 特定的比特位上。 這個(ge) 可視化的工具能夠發現其他分析方法所無法觀測到的誤碼。

BSX240誤碼率測試儀(yi) 抖動容限模板選項

許多標準要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調製的SJ對Rx的影響。BERTScope內(nei) 置的抖動容限功能通過用戶自定義(yi) 的容限模板，自動完成這項測試。同時，BERTScope還提供了許多標準的測試庫供用戶使用。

可調節的測試參數

• BER置信度
• 每點測試持續時間
• BER門限
• 測試設備釋放時間
• 模板餘量控製
• A/B 碼型切換控製測試精度

另外還包括在每一個(ge) 選擇點上進行測試的能力，以及數據可以導出為(wei) 截圖或CSV文件。

誤碼位置分析調試

強大的誤碼分析功能 – 在這個(ge) 例子中，眼圖測試結果和BER聯係在一起，發現並解決(jue) 了內(nei) 存控製芯片的一個(ge) 問題。左上角的眼圖顯示了在信號在十字交叉區域出現比正常眼圖所少見的特征。接著將BER判定點移動到該區域上仔細勘察。Error Analysis 結果顯示出問題特征和碼型中第24個(ge) 標記位有一定的聯係。進一步調查發現和IC內(nei) 部的時鍾分頻有關(guan) ；係統時鍾是輸出數據速率的24分頻。重新設計芯片中增大了對時鍾鏈路的隔離後，就能得到右下角所示的幹淨眼圖。

誤碼分析能力實例

抖動分離及定位 (Jitter Map) 選項

抖動分離及定位(Jitter Map)1用長碼型抖動三角形測量法自動抖動分離。抖動分離及定位(Jitter Map)擴展了以BER為(wei) 基礎的抖動分離，除了按照Dual-Dirac方法測量總體(ti) 抖動（Tj）、隨機抖動（Rj）和確定性抖動（Dj），還可以將確定性抖動分析為(wei) 更加詳細的抖動類型。該選項也能測量和分離極長碼型上的抖動，例如PRBS31，假設係統受限運行在較短的同步數據碼型上。

該選項的特點包括：

• DJ分離為有界非相關抖動（BUJ），數據相關性抖動（DDJ），碼間幹擾抖動（ISI），占空比失真抖動（DCD），子速率抖動（SRJ）2和F/2（或F2）抖動
• 基於BER的直接測試TJ，誤碼率水平可達10–12甚至更深
• 分離相關和非相關性抖動，減小DDJ和RJ的混淆
• 可以在數據碼型各自邊沿上可視化RJ RMS測量結果
• 支持100GbE應用的J2和J9測試
• 支持更多的抖動分離類型：加重抖動 (EJ)，非相關性抖動 (UJ)，數據相關性脈衝損傷 (DDPWS) 和非 ISI 抖動
• 直觀的抖動分離樹顯示

1抖動分離及定位要求數據速率高於(yu) 900 Mb/s。

2SRJ和F/2抖動運行速率最高11.2 Gb/s (所有配置)

帶壓力實時數據選項

BERTScope帶壓力實時數據選項幫助工程師最SHI時的數據上增加各種各樣的壓力，以模擬在現實的環境中，觀察被測係統的響應。使用帶壓力的實時測試數據能夠測量係統性能的邊界極限，增加係統設計的信心。

• 支持全係列 BERTScope 產品，包括正弦 (SJ), 隨機抖動 (RJ), 有界非相關抖動 (BUJ), 正弦幹擾 (SI), F/2 抖動和擴頻時鍾 (SSC)
• 支持最高的BERTScope數據速率
• 數據率小於等於11.2Gb/s時支持全速率時鍾；高於11.2Gb/s時，支持半時鍾速率

BSX240誤碼率測試儀(yi) 符號過濾選項

對插入到碼流中的時鍾補償(chang) 符號數量不確定的輸入數據流，符號過濾功能支持在輸入數據流上進行異步BER測試，包括抖動容限測試。

• 支持異步接收機測試，如USB 3.1，SATA和PCI Express
• 從輸入的數據中自動過濾用戶符號，保持同步
• 對於高精度誤碼測量，誤碼檢測支持一定數量的過濾比特