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2651A儀器源測量單元

2651A儀器源測量單元

型號:2651A

產(chan) 品時間:2023-11-10

簡要描述:

2651A儀(yi) 器源測量單元專(zhuan) 為(wei) 高電壓/電流電子產(chan) 品和功率半導體(ti) 元件(例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件)的檢定和測試而設計。

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詳細介紹

2651A儀(yi) 器源測量單元專(zhuan) 為(wei) 高電壓/電流電子產(chan) 品和功率半導體(ti) 元件(例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件)的檢定和測試而設計。 它們(men) 提供*的功率、精度、速度、靈活性,且容易用於(yu) 提高研發、生產(chan) 測試和可靠性環境中的效率。 有兩(liang) 種儀(yi) 器可用,提供高達 3000V 或高達 2000W 的脈衝(chong) 電流功率。

特點

優勢

高度靈活的四象限電壓和電流源/負載,與高精度電壓表和電流表相耦合提供同類最JIA的性能,具有 6½ 位分辨率。
源或阱 (2651A) 脈衝功率高達 2000W(±40V、±50A),或直流bv伟德手机客户端平台高達 200W(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A);輕鬆連接兩個器件(串聯或並聯)創建高達 ±100A 或 ±80V 的解決方案支持功率半導體、HBLED、光器件、太陽能電池以及 GaN、SiC 及其他複合材料和器件的檢定/測試。 應用範圍包括半導體接點溫度檢定;高速、高精度數字化;電遷移研究;以及高電流、高功率設備測試。
源或阱 (2657A) 直流或脈衝功率高達 180W(±3000V@20mA、±1500V@120mA)提供功率半導體器件檢定和測試所需的高壓,包括 GaN、SiC 及其他複合材料和器件、高達 3kV 的故障和漏電測試以及亞毫秒瞬態檢定。
內置基於網絡瀏覽器的軟件支持通過任何瀏覽器、任何計算機、從全球任何地方進行遠程控製。
有數字化或積分測量模式可供選擇支持準確檢定瞬態和穩態行為,包括快速變化的熱效應。
TSP(測試腳本處理)技術可以與 2657A 型與 2600B 係列型號輕鬆地進行係統集成。
TSP-Link 通道擴展總線支持將多台 2651A 和 2657A 與選定的 2600B 係列 SMU 儀器相結合,形成一個具有多達 32 個通道的集成係統。
兼容於 8010 型高功率設備測試夾具和 8020 型高功率接口麵板為封裝部件或晶片級高功率設備測試提供安全而方便的連接。
免費的測試腳本構建器軟件工具幫助您創建、修改、調試和存儲 TSP 測試腳本。
選配的 ACS 基礎半導體元器件檢定軟件開發、質量檢驗或故障分析期間執行封裝部件檢定時,限度地提高工作效率。

2651A儀(yi) 器源測量單元

 


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