2657A儀(yi) 器源測量單元是一種高電壓、高功率、低電流源測量單元（SMU），具有迄今為(wei) 止最高的功率、精度、速度、靈活性和易用性，能夠大大提高研發、生產(chan) 測試和可靠性環境的測試效率。2657A是專(zhuan) 門針對高壓電子和功率半導體(ti) 器件的特征分析與(yu) 測試而設計的，例如二極管、FET和IGBT，以及其它一些需要高電壓、快速響應和準確測量電壓和電流的元件和材料。2657A是吉時利功率半導體(ti) 特征分析和測試解決(jue) 方案的2600A係列產(chan) 品，具有業(ye) 界最高的功率和最JIA的低電流性能。這些用戶可配置的解決(jue) 方案采用了業(ye) 界最QIANG大的參數式特征分析軟件平台，能夠隨著用戶應用的發展進行升級。2657A與(yu) 其它2600A係列數字源表一樣，具有高度靈活的四象限電壓和電流源/負載，
並配置了精密電壓和電流計。它可以用作：
• 提供或吸收高達180W的直流或脈衝(chong) 電
源（±3000V@20mA，±1500V@120mA）
• 1fA低電流分辨率
• 用於(yu) 高精度和高速瞬態捕獲的雙22位
精度ADC和每點雙18位1μs數字轉換器
• 易於(yu) 與(yu) 其它2600A數字源表進行係統集
成的全TSP ® 兼容能力
• 單台儀(yi) 器內(nei) 集成了精密bv伟德手机客户端平台、電流
源、DMM、任意波形發生器、電壓或電
流脈衝(chong) 發生器、電子18位負載和觸發
控製器
• 內(nei) 含TSP ® Express特征分析軟
件、LabVIEW ® 驅動和吉時利的Test
Script Builder軟件開發環境
典型應用
•  功率半導體(ti) 器件特征分析與(yu) 測試
•  GaN、SiC和其它一些複合材料與(yu) 器件
的特征分析
•  高達3kV的擊穿與(yu) 漏流測試
•  亞(ya) 毫秒瞬態特征分析
2657A能夠提供或吸收高達3000V@20mA或1500V@120mA的bv伟德手机客户端平台
• 半導體(ti) 特征分析儀(yi)
• 電壓或電流波形發生器
• 電壓或電流脈衝(chong) 發生器
• 支持電壓和電流讀回的精密bv伟德手机客户端平台
• 真電流源
• 數字萬(wan) 用表（DCV、DCI、歐姆
和六位半分辨率bv伟德手机客户端平台）
• 精密電子負載2657A儀(yi) 器源測量單元