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GTEM750小室

GTEM750小室

型號:GTEM750

產(chan) 品時間:2023-11-11

簡要描述:

GTEM750小室為(wei) 小型電子產(chan) 品的輻射電磁場幹擾敏感性提供有力的測試依據。測試係統構成:主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM 室體(ti) 組成。

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詳細介紹

GTEM750小室

  • IEC 61000-4-3
  • IEC 61000-4-20
  • GB/T 17626.3

PPG3204 4 通道可編程碼型發生器 32 Gb/s - 配置與(yu) 報價(jia)

LE320 32 Gb/s 9 抽頭線性均衡器 32 Gb/s - 配置與(yu) 報價(jia)

相幹信號生成 AWG70001A 係列任意波形發生器 以每秒 50 G 采樣率和 10 位分辨率生成波形

相幹信號生成 PPG3000、PPG4000 係列可編程碼型發生器 數據速率高達 40 Gb/s,8 ps 上升時間

相幹光調製 OM5110 多格式光發射機 雙偏振調製高達 46GBaud,采用自動偏置控製

相幹光采集 OM4200 係列光調製分析儀(yi) 雙偏振相幹檢測,45 GHz 模擬帶寬

相幹光采集 OM70000 光調製係統 完整的係統能夠進行雙偏振相幹檢測,70 GHz 模擬帶寬。 包括 70 GHz 示波器與(yu) OM1106 分析軟件。

相幹光采集 OM2210 相幹光接收機校準源 C 波段和 L 波段光調製分析儀(yi) 的校準

相幹光采集 DPO70000SX 係列示波器 靈活采集,帶寬最高可達 70 GHz,采樣率可達 200GS/s

GTEM750小室構成的輻射敏感度(抗擾度)測試係統為(wei) 小型電子產(chan) 品的輻射電磁場幹擾敏感性提供有力的測試依據。測試係統構成:主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM 室體(ti) 組成。

AWG70002A 2 8、9 或 10 位 高達 14 GHz 10 GHz 25 GS/s 16 GS/s 8 GS/s 2 GS - 8 GS(可選) - 配置與(yu) 報價(jia)

GETM型號 GTEM250 GTEM500 GTEM750 GTEM1000 GTEM1250

輸入功率(瓦)

250/500

500/1000

600/1200

800/1600

800/1600

EUT bv伟德手机客户端平台插座數量

1

2

2

2

2

外部尺寸(長×寬×高cm)

115×64×44

300×165×110

400×220×147

500×276×184

600×330×220

門尺寸(寬×高cm)

30×23

42×40

61×61

79×79

100×100

輪子

可選

標配

標配

標配

EUT(長×寬×高cm)

20×20×15

40×40×30

60×60×50

75×75×70

100×100×85

定義(yi) 的測試體(ti) 積±3dB,<1GHz(長

×寬×高cm)

15×15×10

30×30×15

45×45×25

60×60×30

75×75×42

隔板高度(mm)

 

250

500

750

1000

1250

屏蔽性能

10kHz-10MHz:>50dB

10MHz-20MHz:>100dB

連接器  

 N 型

阻抗

50Ω

頻率範圍

0.1MHz-20GHz

典型駐波比(頻率大5HGZ)

1:1.2

重量(公斤)

80

200

400

650

850

 

 


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